原子吸收光譜是一種常用的分析儀器，可測定多種元素，火焰原子吸收光譜法可測到10-9g/mL數(shù)量級，石墨爐原子吸收法可測到10-13g/mL數(shù)量級。今天我們就來具體介紹一下原子吸收光譜運行中四大干擾效應，希望可以幫助用戶更好的應用產(chǎn)品。

　　一、干擾效應

　　原子吸收光譜分析中，干擾效應按其性質(zhì)和產(chǎn)生的原因，可以分為四類：

　　1、物理干擾

　　物理干擾是指試樣在轉移、蒸發(fā)和原子化過程中，由于試樣任何物理特性(如粘度、表面張力、密度等)的變化而引起的原子吸收強度下降的效應。物理干擾是非選擇性干擾，對試樣各元素的影響基本是相似的。

　　配制與被測試樣相似組成的標準樣品，是消除物理干擾常用的方法。在不知道試樣組成或無法匹配試樣時，可采用標準加入法或稀釋法來減小和消除物理干擾。

　　2、化學干擾

　　化學干擾是由于液相或氣相中被測元素的原子與干擾物質(zhì)組分之間形成熱力學更穩(wěn)定的化合物，從而影響被測元素化合物的解離及其原子化。磷酸根對鈣的干擾，硅、鈦形成難解離的氧化物、鎢、硼、希土元素等生成難解離的碳化物，從而使有關元素不能有效原子化，都是化學干擾的例子。化學干擾是一種選擇性干擾。

　　消除化學干擾的方法有：化學分離;使用高溫火焰;加入釋放劑和保護劑;使用基體改進劑等。例如磷酸根在高溫火焰中就不干擾鈣的測定，加入鍶、鑭或EDTA等都可消除磷酸根對測定鈣的干擾。原子吸收光譜在石墨爐原子吸收法中，加入基體改進劑，提高被測物質(zhì)的穩(wěn)定性或降低被測元素的原子化溫度以消除干擾。例如，汞極易揮發(fā)，加入硫化物生成穩(wěn)定性較高的硫化汞，灰化溫度可提高到300℃;測定海水中Cu、Fe、Mn、As，加入NH4NO3，使NaCl轉化為NH4Cl，在原子化之前低于500℃的灰化階段除去。

　　3、電離干擾

　　在高溫下原子電離，使基態(tài)原子的濃度減少，引起原子吸收信號降低，此種干擾稱為電離干擾。電離效應隨溫度升高、電離平衡常數(shù)增大而增大，隨被測元素濃度增高而減小。

　　加入更易電離的堿金屬元素，可以有效地消除電離干擾。

　　4、光譜干擾

　　光譜干擾包括譜線重疊、光譜通帶內(nèi)存在非吸收線、原子化池內(nèi)的直流發(fā)射、分子吸收、光散射等。當采用銳線光源和交流調(diào)制技術時，前三種因素一般可以不予考慮，主要考慮分子吸收和光散射的影響，它們是形成光譜背景的主要因素。

　　二、分子吸收和光散射的影響

　　分子吸收干擾是指在原子化過程中生成的氣體分子、氧化物及鹽類分子對輻射吸收而引起的干擾，圖3.10示出了鈉的鹵化物分子的吸收譜帶。光散射是指在原子化過程中產(chǎn)生的固體微粒對光產(chǎn)生散射，使被散射的光偏離光路而不為檢

　　三、測器所檢測，導致吸光度值偏高

　　光譜背景除了波長特征之外，還有時間、空間分布特征。分子吸收通常先于原子吸收信號之前產(chǎn)生，當有快速響應電路和記錄裝置時，可以從時間上分辨分子吸收和原子吸收信號。樣品蒸氣在石墨爐內(nèi)分布的不均勻性，導致了背景吸收空間分布的不均勻性。

　　提高溫度使單位時間內(nèi)蒸發(fā)出的背景物的濃度增加，同時也使分子解離增加。這兩個因素共同制約著背景吸收。在恒溫爐中，提高溫度和升溫速率，使分子吸收明顯下降。

　　原子吸收光譜在石墨爐原子吸收法中，背景吸收的影響比火焰原子吸收法嚴重，若不扣除背景，有時根本無法進行測定。